

Анализ результатов нанолитографии с помощью фокусированнного ионного пучка в технологическом комплексе НТК-4 в учебно-инженерном центре нанотехнологий Московского государственного технического университета (МГТУ) имени Н.Э. Баумана.
- Категории: Наука и технологии
- Место: Москва, Россия
- Дата события: 25.02.2009
- Дата поступления: 26.02.2009
- Автор: Сергей Пятаков
- Кредит: РИА Новости
- Источник: РИА Новости
- Оригинал: Цифра
- Формат: JPEG, 4256x2832px, 1.8Mb